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IGBT器件基本失效模式及机理

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目前,国内外对于IGBT器件失效的研究众多,主要从两...
LED晶片

LED晶片HAST加速寿命测试的介绍

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环境应力筛选(ESS)

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可靠性试验的目的是什么

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高低温试验箱,高温板,IC托盘

高温板(IC托盘)成功完成1000小时135度测试

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环境温度对产品质量的影响

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