电子产品老化温度及时间确认

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电子产品老化温度及时间确认

来源： www.riukai.com 时间：2021-05-11

    所谓老化试验是在不破坏产品失效的基础上施加合理的环境应力和电应力，将其内部的潜在缺陷加速变成故障，尽快达到浴盆曲线中期失效。通常都以温度作为应力而常见，公式参见下面。
    SS=1-exp[-0.0017(R+0.6)0.6t]
    式中，SS——筛选强度(筛选出的缺陷品数的平均值/总的潜在缺陷品)
    R——高温与室温（一般取25℃）的差值
    t——恒定高温持续时间（h）
    e= 2.718282

筛选强度与温度、时间对应表：

电子产品老化温度及时间确认

本文标签： 电子产品老化试验

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