电容屏的双85测试条件是行业严酷的可靠性标准，是欧美等发达国家市场准入的标准。为了充分验证和展示电容屏在经过1000小时“双85”老化测试后是否仍具有优异的可靠性和稳定性，近期，瑞凯仪器技术团队专门对应用低阻导电膜自主生产的电容屏产品进行了1000小时“双85”老化测试，验证产品经过1000小时环测后的产品性能。
一、测试装置及条件
1、测试装置：恒温恒湿试验箱（瑞凯仪器 RK-TH-408）；
2、测试条件：85℃+85%RH；
3、测试时间：持续1000小时
4、测试标准：环测前/后的数据对比差异值
二、测试内容
1、测试产品：43寸TP和55寸TP
2、测试数量：共4片
3、物料情况：
三、测试结果
1、电容屏测试前后的基本性能
2、电容屏测试后的基本性能：
经过1000小时的“双85”测试后，电容屏依然保持原有的性能特性，环测前后数值变化在10%以内，1000小时的高温高湿环测的TP测试功能数据对比和环测前测试功能的数据对比都在要求范围内，证明透明导电膜材料制成的TP可以通过环测1000小时“双85”项目，性能稳定可靠。
环测前后数值变化在10%以内
环测前后数值对比
