高温贮存试验通常用于确定贮存条件下时间和温度对热故障机制的影响，以及固态电子设备（包括非易失性存储设备）的时间-故障分布（数据保留故障重建机制）。在试验过程中，在不施加电气条件的情况下，使用加速应力温度，根据时间、温度和包装（如有），利用阿伦尼乌斯加速方程建立了热失效机理模型。